Aparat de măsurare a stresului pentru suprafețe de sticlă din seria JF-4

Scurtă descriere:

Aparatul de măsurare a tensiunii la suprafața sticlei din seria JF-4 este conceput pentru a măsura automat tensiunea la suprafața sticlei călite chimic și termic. Este echipat cu un computer (PC) care reduce erorile de măsurare produse de fiecare operator. În plus, calculele complexe necesare pentru a calcula tensiunea de compresie la suprafață și adâncimea stratului, precum și tensiunea de tensiune centrală pentru sticla călită, sunt rezolvate rapid utilizând efectul de ghid de undă optic. Stocarea datelor în memoria PC-ului facilitează controlul calității.


Detalii produs

Etichete de produs

Aplicație

A fost utilizat pe scară largă în controlul calității pentru panourile de sticlă ale telefoanelor, panourile LCD și alte panouri din sticlă securizată chimic. Cu toate acestea, aparatul nu poate fi aplicat la sticla securizată chimic produsă prin schimb ionic (Li+ în sticlă) și (Na+ în baie de sare) și la sticla fotocromatică securizată chimic.

Poate fi personalizat în funcție de cerințe. Software nou lansat cu funcții potrivite pentru sticlă cu schimb dublu de ioni, care afișează distribuția tensiunii, continuă automat măsurarea, continuă automat înregistrarea în fișier CSV și exportă rapoarte.

Software

Software-ul este conceput să coopereze cu aparatul de măsurare a stresului de suprafață a sticlei, utilizat pe computer. Folosind acest software, se pot realiza pe computer măsurători simple și continue ale tensiunii de suprafață a sticlei, inspecția distribuției tensiunii (doar sticla securizată chimic), înregistrarea și imprimarea rapoartelor.

Parametrii și alte funcții pot fi setate simultan. Rezoluția monitoarelor trebuie să fie de cel puțin 1280*1024 pixeli.

Specificații

Precizie: 20Mpa

Interval: 1000MPa/1500MPa

Adâncime: 5~50um/10~100um/10~200um

Sistem de operare: Windows 7 pe 32 de biți / Windows pe 64 de biți

Lungimea de undă a sursei de lumină: 355nm/595nm/790nm±10nm

JF-4 Aparat de măsurare a stresului de suprafață (echipament)
Aparat de măsurare a stresului de suprafață JF-4 (echipament)2 (1)
JF-4 Aparat de măsurare a stresului de suprafață (echipament)2 (2)

  • Anterior:
  • Următorul:

  • Scrie mesajul tău aici și trimite-l nouă