JF-2E Aparat de măsurare a stresului pentru suprafețe de sticlă

Scurtă descriere:

Aparatul de măsurare a tensiunii superficiale a sticlei JF-2E este utilizat pentru măsurarea tensiunii superficiale a sticlei călite chimic și termic prin metoda efectului de ghid de undă optic. JF-2E este versiunea portabilă cu PDA. Respectă standardul ASTM C 1422. De asemenea, are caracteristici precum operare ușoară, dimensiuni reduse, portabilitate și asistență manuală (doar software pentru PC).

Trimiteți-ne un e-mail

Detalii produs

Etichete de produs

Hardware

Similar cu JF-1E și JF-3E, sistemul constă în principal dintr-un PDA și un instrument de măsură. Două părți sunt conectate cu o clemă. Unghiul PDA și al corpului principal pot fi reglate prin intermediul balamalei.

În partea de jos a instrumentului se află o prismă. Există două butoane reglabile pe cele două părți laterale ale instrumentului. Butonul din dreapta este pentru reglarea imaginii, iar butonul din stânga este pentru reglarea locației sursei de lumină.

Software

Pentru software, există două vizualizări, vizualizarea măsurării și vizualizarea setului. În vizualizarea măsurării, imaginea live este afișată în partea de sus, rezultatele sunt afișate în partea de jos stânga, iar butoanele Start/Stop și Setare sunt afișate în partea de jos dreapta. Operatorul poate începe măsurarea făcând clic pe butonul Start și poate accesa vizualizarea setului făcând clic pe butonul Setare.

Interfața măsurării tensiunii la suprafața sticlei călite chimic este diferită de măsurarea tensiunii la suprafața sticlei călite termic.

În vizualizarea Set, sunt setați următorii parametri: numărul de serie, măsurarea sticlei călite termic, grosimea sticlei, coeficientul fotoelastic, indicele de refracție al miezului sticlei și factorul 1.